《芯片研发中的safe launch流程对测试的要求》

《测试零缺陷筛选方式介绍》

    随着中国半导体行业的蓬勃发展以及器件广泛应用于汽车、医疗、航空航天等安全领域。为了确保半导体产品的高可靠性，避免因各种缺陷引起严重后果，通过半导体测试来实现出货产品的零缺陷已成为所有企业的共识以及核心目标。本次的话题主要讨论如何通过测试以及测试后处理来帮忙半导体设计公司和工厂实现零缺陷的各种方式。

《集成式磁传感器芯片测试挑战和技术探讨》

1. 测试技术全景解析：从磁传感器的工作原理、种类到测试难点（如故障模型、小信号处理、自动化与经济学平衡），系统梳理技术痛点与突破方向。

2. 模拟与数字测试协同：深入探讨BandGap、PLL、OSC等通用模拟技术，以及LDO、可编程放大器的测试方法；同时结合数字电路的DFT、存储器测试，展现全流程测试逻辑。

3. 磁传感器专项技术攻坚：聚焦微小信号测试架构、磁激励闭环控制、Fuse烧写、UUID编码方案等创新技术，并分享两温修调、FPGA控制等提升测试效率的实战经验。

4. 行业落地与未来趋势：结合车规级高可靠性需求，解析测试覆盖率与稳定性的实现路径，展望智能化、自动化测试平台的演进方向。

主办单位：张江高科，华岭股份，顶策科技

协办单位：捷芯电子，南通优睿，江阴佳泰，

                矽圆科技，绍兴宏邦，宏泰科技，

                悦芯科技，SineTest，杭州晶测，

                铭剑电子，鹏武电子，佳宽电子。

支持媒体：专业IC测试网，IC测试之家，

​                IC咖啡，大同学吧。

时间：2025年3月1日（周六） 13:00-18:00

地点：上海浦东新区秋月路26号矽岸国际六号楼3楼

联系方式：刘老师13166339996（同V)

第十三届IC测试研讨会现场报道

第十二届IC测试研讨会现场报道

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